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Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
更新時間：2025-10-22
型號：FR-pRo
廠商性質：代理商
瀏覽量：51871
光學厚度測量儀的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：3144
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：3500
薄膜厚度測量的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
更新時間：2025-09-04型號：FR-Scanner廠商性質：代理商瀏覽量：14399
FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。
更新時間：2025-09-04型號：FR-Mic廠商性質：代理商瀏覽量：6848
硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
更新時間：2025-09-04型號：FR-Mic廠商性質：代理商瀏覽量：11577