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簡(jiǎn)要描述：Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時(shí)間：2025-09-04訪 問 量： 5390產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的先進(jìn)厚度測(cè)試系統(tǒng)
F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測(cè)試光斑直徑因而可以快速容易的測(cè)量其他膜厚測(cè)試儀器不能測(cè)量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。
波長選配
Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x采用的是近紅外光（NIR）來測(cè)量膜層厚度，因此可以測(cè)試一些肉眼看是不透明的膜層（ 比如半導(dǎo)體膜層） 。980nm波長型號(hào)，F(xiàn)3-s980，專門針對(duì)低成本預(yù)算應(yīng)用。F3-s1310針對(duì)于高參雜硅應(yīng)用。F3-s1550則針對(duì)較厚膜層設(shè)計(jì)。
測(cè)量原理為何？
FILMeasure分析-薄膜分析的標(biāo)準(zhǔn)部件
可選配件
應(yīng)用
1.Si晶圓厚度測(cè)試
2.保形涂層
3.IC 芯片失效分析
4.厚光刻膠（比如SU-8光刻膠）
選擇Filmetrics的優(yōu)勢(shì)
桌面式薄膜厚度測(cè)量?jī)x器
24小時(shí)電話在線支持
所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件
附加特性
1.嵌入式在線診斷方式
2.免費(fèi)離線分析軟件
3.精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地
4.存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)試結(jié)果
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