當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 晶圓缺陷檢測 > 雙2D AOI系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
Product Category
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，可以精確量測Bumping高度，Bumping共面性等特征?？蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chǎn)品外觀檢測。
更新時(shí)間：2025-09-04
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：3052